Synthetic Polymeric Membranes
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Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool. Each chapter includes information on basic principles, commercial applications, an overview of current research and guidelines for future research.
| Autor: | K. C. Khulbe, C. Y. Feng, Takeshi Matsuura |
|---|---|
| EAN: | 9783540739944 |
| eBook Format: | |
| Sprache: | Englisch |
| Produktart: | eBook |
| Veröffentlichungsdatum: | 03.12.2007 |
| Untertitel: | Characterization by Atomic Force Microscopy |
| Kategorie: | |
| Schlagworte: | AFM Atomic Force Microscopy Helium-Atom-Streuung Membranes PED Polymer Polymers Surfaces morphology |
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