Structure Analysis of Advanced Nanomaterials

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ISBN/EAN: 9783110304725

High-resolution electron microscopy allows the imaging of the crystallographic structure of a sample at an atomic scale. It is a valuable tool to study nanoscale properties of crystalline materials such as superconductors, semiconductors, solar cells, zeolite materials, carbon nanomaterials or BN nanotubes.

Autor:	Oku, Takeo
EAN:	9783110304725
Sprache:	Englisch
Seitenzahl:	180
Produktart:	Gebunden
Veröffentlichungsdatum:	15.09.2014
Untertitel:	Nanoworld by High-Resolution Electron Microscopy
Schlagworte:	Chemie (physikalisch) Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie Energie (physikalisch) Materialwissenschaft Nanotechnologie Physik / Chemie Physikalische Chemie Technologie / Nanotechnologie

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