Scanning Electron Microscopy

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ISBN/EAN: 9783540639763

Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

Autor:	Reimer, Ludwig
EAN:	9783540639763
Auflage:	002
Sprache:	Englisch
Seitenzahl:	544
Produktart:	Gebunden
Veröffentlichungsdatum:	17.09.1998
Untertitel:	Physics of Image Formation and Microanalysis
Schlagworte:	Elektronenmikroskopie - Raster-Tunnel-Mikroskopie

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