Physical Limitations of Semiconductor Devices
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Providing an important link between the theoretical knowledge in the field of non-linier physics and practical application problems in microelectronics, the purpose of the book is popularization of the physical approach for reliability assurance. Another unique aspect of the book is the coverage given to the role of local structural defects, their mathematical description, and their impact on the reliability of the semiconductor devices.
Autor: | Vladislav A. Vashchenko, V. F. Sinkevitch |
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EAN: | 9780387745145 |
eBook Format: | |
Sprache: | Englisch |
Produktart: | eBook |
Veröffentlichungsdatum: | 22.03.2008 |
Kategorie: | |
Schlagworte: | ESD Leistungsfeldeffekttransistor SOA Sinkevitch Transistor Vashchenko bipolar junction transistor bipolar power transistor catastrophic failures development electrostatic discharge field-effect transistor metal oxide semiconductur field- |
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