In-situ Electron Microscopy

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ISBN/EAN: 9783527652198
Adopting a didactical approach from fundamentals to actual experiments and applications, this handbook and ready reference covers
real-time observations using modern scanning electron microscopy and transmission electron microscopy, while also providing information
on the required stages and samples. The text begins with introductory material and the basics, before describing advancements and applications in dynamic transmission electron microscopy and reflection electron microscopy. Subsequently, the techniques needed to determine growth processes, chemical reactions and oxidation, irradiation effects, mechanical, magnetic, and ferroelectric properties as well as cathodoluminiscence and electromigration are discussed.
Autor: Gerhard Dehm, James M. Howe, Josef Zweck
EAN: 9783527652198
eBook Format: PDF
Sprache: English
Produktart: eBook
Veröffentlichungsdatum: 10.10.2012
Untertitel: Applications in Physics, Chemistry and Materials Science
Kategorie:
Schlagworte: FIB SEM TEM and transmission electron microscopes focused ion beam workstations material parameters material properties nanostructure scanning electron microscopes

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