Handbook of Sample Preparation for Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis

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ISBN/EAN: 9781441946744

Identifies problems that all specimens present in examining their structure and analysis in the SEM Describes a series of protocols to ensure that a specimen is properly prepared once the particular problems are identified Guides the reader through a general approach to the problem before a particular procedure is applied to the requirements of a given sample Designed both as an introduction for the novice and as a guide for the practicing scanning microscopist

Autor:	Echlin, Patrick
EAN:	9781441946744
Sprache:	Englisch
Seitenzahl:	344
Produktart:	Kartoniert / Broschiert
Veröffentlichungsdatum:	23.11.2010

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