Design, Automation, and Test in Europe
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In 2007 The Design, Automation and Test in Europe (DATE) conference celebrated its tenth anniversary. As a tribute to the chip and system-level design and design technology community, this book presents a compilation of the three most influential papers of each year. This provides an excellent historical overview of the evolution of a domain that contributed substantially to the growth and competitiveness of the circuit electronics and systems industry.
Dr. Rudy Lauwereins is the General Chair for DATE 2007, Dr. Jan Madsen is the Technical Chair.
Autor: | Rudy Lauwereins, Jan Madsen |
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EAN: | 9781402064883 |
eBook Format: | |
Sprache: | Englisch |
Produktart: | eBook |
Veröffentlichungsdatum: | 08.01.2008 |
Untertitel: | The Most Influential Papers of 10 Years DATE |
Kategorie: | |
Schlagworte: | CMOS Embedded System IEEE 80 circuit compiler digital system electronics embedded systems interconnect network on chip (NoC) optimization power management router routing simulation |
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